A JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (www.jeol.com) (presidente - Gon-emon Kurihara) anuncia o lançamento de um novo microscópio eletrônico de varredura (Scanning Electron Microscope, SEM) de bancada, NeoScope^TM série JCM-7000, que será lançado em março de 2019.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20190311005962/pt/

JCM-7000 NeoScope(TM) Benchtop Scanning Electron Microscope (Photo: Business Wire)

Histórico do desenvolvimento do produto

Os microscópios eletrônicos de varredura de bancada são usados em inúmeros setores, como elétrico, eletrônica, automotivo, máquinas, químico e farmacêutico. Além disso, as aplicações do SEM estão sendo ampliadas, não apenas para abranger pesquisa e desenvolvimento, como também para atender a inspeções de produto e controle de qualidade em fábricas. Como resultado, está aumentando a procura por uma eficiência de trabalho ainda melhor, uma operação muito mais rápida e fácil e de um nível mais alto de capacidades de medição e analíticas.

Com base no predecessor premiado e altamente bem-sucedido dos nossos SEMs série InTouchScope^TM, desenvolvemos um novo SEM de bancada, JCM-7000, para atender a estas crescentes exigências do mercado. A série JCM-7000 incorpora funções inovadoras, comparáveis às da série InTouchScope^TM. Os recursos da série JCM-7000 incluem 1) interface gráfica simples para alta operabilidade, 2) pequena área ocupada, 3) transição direta da geração de imagens de microscopia óptica para geração de imagens do SEM com a função “Zeromag”, 4) análise de elementos em tempo real durante a observação de imagens com a função “Live Analysis”, e 5) plataforma motorizada biaxial (X, Y) para uma operação sem intercorrências.

Além disso, o JCM-7000 vem com a função “Live 3D”, que exibe simultaneamente uma imagem do SEM em tempo real e uma imagem de superfície 3D reconstruída em tempo real. Esta nova capacidade também permite ao usuário obter informações topográficas e de profundidade da amostra, juntamente com informações de imagem do SEM a partir da superfície da amostra.

Principais recursos

1. Com a nossa função “Zeromag”, a navegação nas amostras é ainda mais fácil do que nunca. A “Zeromag”, que vincula a imagem CCD com informações de cor com a imagem do SEM sobre os detalhes da superfície, permite que o usuário encontre rapidamente áreas para geração de imagens e análise.
2. Com a ajuda de uma plataforma motorizada biaxial (X, Y), a eficiência do trabalho é aprimorada e as imagens para montagem podem ser facilmente coletadas para uma grande área da amostra.
3. Com a nossa série Analytical (analítica) (função “Live Analysis”), o sistema EDS integrado exibe um espectro EDS em tempo real durante a observação da imagem, para uma análise de elementos rápida e eficiente.
4. Uma nova função “Live 3D” permite a observação simultânea de uma imagem do SEM e uma imagem de superfície 3D reconstruída em tempo real, juntamente com a aquisição de informações topográficas e de profundidade.

Meta anual de vendas da unidade
400 unidades/ano

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão
Gon-emon Kurihara, presidente e diretor representante
(Código de ações: 6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio)
www.jeol.com

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JEOL Ltd.

Divisão de vendas de instrumentos de medição e ciência

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